安立知（Anritu）為其無線通訊綜合測試平台MT8000A推出「使用機器學習的 EIS-CDF 最佳化」MX800010A-026 全新軟體選項，透過機器學習實現最佳化的 5G 毫米波（mmWave）3D EIS掃描（EIS-CDF）測試時間。

安立知推出「使用機器學習的 EIS-CDF 最佳化」MX800010A-026全新軟體選項，透過自動化學習 UE 天線特性並提高測試效率。

隨著北美和日本等發達經濟體正加快推出快速連接 5G mmWave（FR2）服務的步伐，mmWave使用者設備（UE）的研發和一致性測試預計將在未來成為更活絡的市場。

3GPP標準規定在OTA（Over-the-Air）測試環境中以 3D測試 mmWave UE 天線特性。由於3D測試的數量或測量點較多，透過機器學習途徑得以大幅縮短測試時間，並可望最佳化毫米波 UE 的測試效率，進而普及。

MX800010A-026 軟體選項支援使用安立知的縮距天線量測場（Compact Antenna Test Range；CATR）電波暗室 MA8172A 進行3D EIS 掃描測試，其方式是透過自動化學習 UE 天線特性，從而提高測試效率。使用相同的 UE 重複多次 3D EIS 掃描，有助於最佳化測試效率。

機器學習透過後續的重複學習，讓兩個 mmWave UE 模型的測試時間最佳化了大約 35%至 60%。

多合一的 MT8000A 平台支援射頻（RF）、協議和應用操作測試，以及波束驗證和波束特性評估。MT8000A除了具有開發5G晶片組和UE所要求的非獨立 （NSA）和獨立（SA）模式基地台操作之模擬功能，還支援所有的5G FR1（600 MHz、2.5 GHz、3.5 GHz、4.5 GHz 和6 GHz免授權）和FR2（24 GHz、28 GHz、39 GHz 和 43 GHz）頻段。

CATR 電波暗室MA8172A使用符合3GPP標準的CATR方法，可在狹小空間中實施5G NR OTA測試。它可用於5G NR晶片組和UE的mmWave開發和一致性測試。