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半導體電容-電壓測試基礎

這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題,主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數,如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期。 與會者將瞭解: 什麼是電容電壓測試? 哪些種類的元件可以使用電容電壓測試來測量? 誰能使用電容電壓測試? 電容電壓測試的挑戰

合作夥伴

主辦單位
美商吉時利儀器

交通資訊

活動時間:40分鐘51秒

活動地點:美國俄亥俄州克里夫蘭市

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參加辦法

參加方式:免費參加

注意事項:

1. 一般免費活動,將由主辦單位進行出席資格審核,通過審核後您將於活動日期前三日收到報到通知信函。

2. 請於活動當日報到時,以紙本或螢幕出示通知信函中之報到編號,以快速完成報到。

3. 活動當天,若報名者不克參加,可指派其他人選參加,並請事先通知主辦單位。

4. 若因不可預測之突發因素,主辦單位得保留研討會課程主題及講師之變更權利。

5. 活動若適逢颱風達放假標準等天災之不可抗拒之因素,將延期舉辦,時間則另行通知。

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