半導體C-V測試之提示, 竅門及量測陷阱

這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題，主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數，如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期。 這次研討會將幫助你改善 ,診斷和確認C-V量測系統. 並討論如何得到良好C-V量測資料. 探討的主題包括系統建立和另外談到其他C-V應用,如高壓CV及準靜態CV. 此次研討會參與者 , 將會學習及瞭解如下 : Connecting a C-V instrument to a probe station properly 如何適當地連接 C-V儀器至探針系統 Common cable correction techniques 訊號線連接修正技術 Performance verification at the probe tips 如何確認修正訊號至探針 Identifying and troubleshooting typical C-V errors 辨認及診斷典型CV錯誤 Implementing extended C-V applications, such as high voltage and quasistatic C-V 另外談到其他C-V應用,如高壓CV和準靜態CV