IC測試當務之急 高整合ATE完整測試免煩惱！

自動測試設備（ATE）是指用於檢測電子元件功能之完整性的相關裝置儀器設備。這些測試裝置透過訊號的產生與擷取，並捕捉元件的回應來檢測元件的品質與特性是否良好。在半導體元件的生產過程中，ATE測試通常為IC製造最後的一道關鍵流程，用於確保晶片的品質良好。 對於需要高性能、高性價比自動測試解決方案的IC測試應用，ADI提供更高度整合的引腳電子元件（PE）、元件電源（DPS）和參數測量單元（PMU）等。這些特定針對ATE應用的產品以及ADI標準方案的各種組合（包括MEMS開關、高性能轉換器和RF收發器），能夠在負載板中提供滿足最新測試要求的各種自動測試解決方案。
●活動名稱： IC測試當務之急 高整合ATE完整測試免煩惱！
●活動時間： 2020年06月30日(二)上午09:58～11:00（含會後30分鐘QA）
●課程重點： ADI針對ATE自動測試設備元件優勢探討 ●ATE系統市場需求。 ●如何打造高整合度ATE系統。 ●DPS和PMU方案介紹。
●主講人：高富華 ●高富華是安馳科技 ADI 產品線的應用工程師，2005加入安馳科技。 ●負責類比元件、放大器、資料轉換器及MEMS傳感器的應用。 ●在 ADC/DAC 信號攫取與控制有豐富的經驗。 ●近年來專注於「基於MEMS 技術的新一代感測器與診斷預測」。