Material Analysis & Failure Analysis

2006年05月29日 星期一 【科技日報報導】
活動名稱: Material Analysis & Failure Analysis
開始時間: 六月二十日(二) 09:00 結束時間: 六月二十日(二) 16:00
主辦單位: 經濟部工業局
活動地點: 新竹市光復路二段101號清大研發大樓2樓
聯絡人: 李小姐 聯絡電話: 03-5735521*3225
報名網頁:
相關網址: http://www.idb-si.net/DesktopDefault.aspx?tabid=9&ItemID=330

利用物化性分析產品真正不良現象,了解產品不良原因及改善方法,提昇產品良率。

課程大綱: 1.電子產品不良實例分析流程

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2.電子產品不良分析儀器(SEM、TEM、Auger/ESCA、 FIB)及技術介紹

3.電子產品(IC、Package、Assemble、PCBA、TFT-LCD)不良實例說明及解決

4.BGA不良實例說明及解決

5.無鉛組裝不良分析


關鍵字: 經濟部工業局   電子邏輯元件