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一款強大的 MEMS 探針卡與垂直的細間距測試指南-一款強大的 MEMS 探針卡與垂直的細間距測試指南 (2012.05.11)
一款強大的 MEMS 探針卡與垂直的細間距測試指南
整合是為了創造更大優勢與更強能力 (2011.04.15)
各種研發、可靠度和生產測試等應用上，非常需要針對高功率電子特性分析而設計的高功率系統電源電錶。對此，吉時利儀器推出了2600A SourceMeter系列的最新產品Model 2651A，可提供業界最寬的電流應用範圍，滿足測試高亮度LED（HBLED）、功率半導體、DC-DC轉換器、電池，以及其他高功率材料、元件、模組和零件等測試需求
FormFactor 推出Harmony XP 晶圓探針卡 (2007.03.01)
FormFactor推出Harmony XP 探針卡，擴增其Harmony系列全區域12吋晶圓探針卡產品陣容，先進的晶圓偵測解決方案支援高密度行動通訊、一般商品、以及繪圖產品專用DRAM元件，為每粒晶圓帶來最低整體測試成本
Keithley第三代RF測試新藥方 高品質、低成本、不須費心關注 (2005.04.01)
美商吉時利儀器（Keithley Instruments）創立於1946年，在精密測試及量測領域累積不少經驗，尤其是微弱伏特、電流、電阻及電容等產品之量測，在業界素執牛耳。
K&S新竹晶圓測試探針卡製造廠開幕 (2004.10.16)
半導體設備供應商庫力索法（Kulicke & Soffa；K&S）於10月中旬在新竹舉行該公司晶圓測試探針卡製造廠開幕典禮；K&S全球營運副總裁Oded Lendner表示，該公司為因應台灣 IC 測試市場的成長趨勢，因此在新竹設廠提供先進晶圓探針卡製造技術，該廠將完全依照 K&S 在全球各地設廠的品管模式，提供高品質技術服務


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