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NI：邁向更開放的智慧型半導體測試 (2016.09.09)
身為平台式系統供應商，NI（國家儀器）不斷致力於協助工程師與科學家，解決當今全球最艱鉅的工程挑戰。而看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，正驅動著半導體設備商對多重測試的強勁需求 |
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NI 發表高精度PXI電源量測單元 (2016.08.05)
NI 國家儀器於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU) 提供 10 fA 的量測靈敏度與高達 200 V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、測試輸出率，工程師可使用 NI PXIe-4135 SMU 量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與 IC 的特性測試等多種應用 |
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NI發表高精度PXI電源量測單元 (2016.07.25)
NI 國家儀器於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU) 提供10 fA的量測靈敏度與高達 200 V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、測試輸出率，工程師可使用 NI PXIe-4135 SMU 量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與 IC 的特性測試等多種應用 |
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NI舉辦2016自動化測試與量測技術研討會 (2016.07.25)
NI國家儀器近日於台南、新竹、台北分別舉辦2016自動化測試與量測技術研討會，透過系列講座與實機展示，剖析自動化測試與量測的最新趨勢、分享PXI平台如何協助客戶進入物聯網時代及提供有效管理巨量類比資料(Big Analog Dara)的解決方案 |
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美商吉時利儀器推出晶圓參數測試系統 (2007.07.30)
量測解決方案廠商—美商吉時利儀器公司，宣布晶圓參數測試系統--S600系列的多項功能，包括將每個測試系統的控制電腦移轉為Linux作業系統， 提供更穩定的作業系統與使用壽命更長的電腦，降低客戶新設工作站與升級軟硬體資源的需求 |
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美商吉時利儀器優越產品獲頒TI卓越供應商獎 (2007.07.24)
美商吉時利儀器公司宣布獲頒德州儀器（TI）2006年卓越供應商獎（Texas Instruments 2006 Supplier Excellent Award）。這個年度獎項旨在獎勵產品與服務達到德州儀器卓越高標準的供應廠商，得獎廠商獲選理由包括在成本、環保責任、科技、反應能力、供貨保證與品質等方面的表現足為楷模表率 |
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力晶選用Agilent測試系統執行晶圓參數測試 (2006.06.05)
安捷倫（Agilent）宣佈，力晶半導體12M新廠決定採用Agilent 4070系列之高精密參數測試系統，以執行產品之晶圓參數測試Wafer Acceptance Test(WAT)。
安捷倫科技之Agilent 4070系列提供了卓越品質, 高穩定, 及高輸出(throughput) 之完整參數測試解決方案，能完全符合業界對於產品之嚴格參數測試需求 |
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聯電採用安捷倫完整參數解決方案 (2003.04.23)
安捷倫科技公司22日表示，聯電已選中安捷倫科技4070|300來建置他們的300mm晶圓參數測試的自動化作業。4070|300及半導體製程評估核心軟體-工廠自動化，為聯電提供了可靠度及300 mm晶圓製造所需的效能能力 |
