账号：
密码：
CTIMES / 光學測試
科技
典故		 叫醒硬件准备工作的BIOS

硬件组装在一起，只是一堆相互无法联系的零件，零件要能相互联络、沟通与协调，才能构成整体的「系统」的基础，而BIOS便扮演这样的角色。
Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展，以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范? 全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术，OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会
Tektronix迈入光学组件及DWDM物理层测试 (2002.05.09)
Tektronix(太克科技)日前发表光学测试系统物理层量测应用之新系列产品，它为密集波长分割多任务 (DWDM) 组件及网络组件的光学设备制造商设定高准确度、高分辨率，及高生产率之新效能测试

  十大热门新闻

AD
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw