CTIMES - 儀器設備

Tektronix推出SAS相容性測試適用的單鍵解決方案 (2010.02.03)
Tektronix今（3）日宣布自動相容性和測試自動化解決方案，現在跨越SATA和SAS（串列連接SCSI）標準，包括由UNH-IOL和SCSI商業協會（STA）所定義廣泛的SAS相容性測試。使用最新的TekExpress軟體，儲存系統設計人員只需按一個鍵即能完成這些測試，確保準確和一致的結果，可節省設定時間，不會浪費時間在重複的手動測試

LitePoint針對3G/4G高量能製造推出新測試系統 (2010.02.03)
LitePoint的IQxstream專為2G，3G及包括LTE等最先進4G手機標準進行實體層測試而設計，其將在產品中加入三個層級的平行測試功能。隨著具備新增及差異化無線電和標準的不斷推陳出新，LitePoint藉由此設計來因應日趨嚴苛的挑戰，避免測試時間與成本的攀升

NI Multisim 11 簡化電路模擬教學與設計程序 (2010.02.03)
美商國家儀器（NI）日前發表最新版本的Multisim 11電路模擬軟體，可同時用於實作教學與專業電路設計。Multisim軟體具備圖形化的程式設計方式，可降低傳統電路模擬的複雜性，讓教師、學生，與工程師均可了解高階的電路分析技術

高效能混合訊號設計的除錯與驗證 (2010.02.02)
高效能數位系統中經常使用的許多技術雖然存在著標準，主要的測試要求則可確保所有元件的同步化及整體無縫的整合效能。終端裝置可能包含多個子系統，這些系統有的需要與彼此和外界通訊

Tektronix授權臺灣大學e-Learning量測數位教材 (2010.02.01)
Tektronix授權國立臺灣大學電機工程學系e-Learning量測數位教材，簽約儀式日前於臺灣大學舉行。Tektronix亞太區行銷部協理張天生、臺灣區業務經理吳俊賢，以及臺灣大學電機資訊學院李琳山院長、電機系胡振國主任等人，共同參與授權簽約儀式

NI發表進階6.6 GHz PXI Express RF模組化儀器 (2010.02.01)
美商國家儀器（NI）針對自動化無線裝置測試，發表新的二款PXI Express RF模組化儀器：NI PXIe-5663E - 6.6 GHz向量訊號分析器（VSA）與NI PXIe-5673E - 6.6 GHz向量訊號產生器（VSG）。這是針對使用最新無線標準（如 WLAN、WiMAX，與GSM/EDGE/WCDMA）的多款裝置，將有效大幅縮短自動化測試時間

Tektronix Communications推出核心網路測試平台 (2010.01.28)
Tektronix Communications本週二（1/27）宣佈，推出適用於Spectra2通訊協定測試產品線的Spectra2u核心網路測試平台。Spectra2u採用Intel雙四核心處理架構，讓網路設備製造商和電信業者都能進行NGN、VoIP和複合網路測試，以提高其功能性、符合性、效能和媒體品質，所有測試只需在單一高容量的多用戶測試平台即可完成

讓廣大用戶群都能共享精密射頻頻譜分析功能的威力 (2010.01.27)
一台功能強大的頻譜分析儀往往具備強大的射頻硬體效能和運算能力，讓使用者能夠用一台儀器執行多種儀器的功能。不過，受限於預算，許多研發、製造及教育機構始終無緣使用這些強大而精密的分析功能

Zytronic為研華平板式電腦增添觸控功能 (2010.01.26)
Zytronic今（26）日宣佈，研華科技（Advantech）選用該公司的投影電容式技術（PCT）觸控感應器，在其最新強化的17吋平板式電腦中提供ZYPOS觸控感應器選擇。 17.1吋ZYPOS觸控螢幕

孕龍科技推出二款新版匯流排分析模組 (2010.01.25)
孕龍科技（zeroplus）於今日（1/25）宣佈，推出兩組匯流排分析模組PHILIPS_RC5、PHILIPS_RC6。PHILIPS_RC5為飛利浦公司制定的一種紅外線遙控信號協定，雖然飛利浦早已制定新款的RC6標準，但目前大多數飛利浦電子產品仍採用RC5格式

併Touchdown 惠瑞捷探針卡技術如虎添翼 (2010.01.25)
半導體測試設備與解決方案大廠惠瑞捷（Verigy）接櫫今年四大發展目標，除了計畫提升既有測試機台的影響力外，惠瑞捷也藉由併購Touchdown取得半導體探針卡（probe card）技術，同時惠瑞捷並計畫在18個月內把RF測試的市佔率提升到35％

安捷倫新一代電源與材料測試研討會 (2010.01.22)
隨著資通訊產品效能之不斷提升，以及車用電子、半導體及新興能源之廣泛應用，電源整合及參數測試已成為所有電源設計及參數分析工程師們之關鍵課題，不論是電源管理IC、電源元件 (例如增益與相位)、低頻電路S參數分析、還是IV/CV量測，都必須納入時域及頻域之雙重考量以使其效能得以最佳化

安捷倫強化PXB基頻產生器與通道模擬器功能 (2010.01.21)
安捷倫科技（Agilent）在昨日（1/20）宣佈，為旗下的Agilent N5106A PXB基頻產生器與通道模擬器提供一系列強化功能，使該儀器能夠適用於整個研發週期 – 從設計、整合與驗證到先期符合性測試

Tektronix USB3.0測試方案促使相容裝置更快上市 (2010.01.20)
Tektronix今（20）日宣佈，該公司的SuperSpeed USB解決方案，支援NEC Electronics USB 3.0相容主機控制器的訊號品質驗證作業，這是獲得USB設計論壇（USB Implementers Forum）認證的USB 3.0產品

安捷倫HDMI 1.4 CTS研討會 (2010.01.20)
安捷倫從HDMI標準確立以來，一直參與HDMI規格的制定，以協助廠商執行相容性測試及解決該技術所帶來的挑戰。其中包含了各種實體層、資料鏈路層與協定層測試工具，足以因應HDMI標準所產生的各種挑戰

安捷倫新鈎表及手持式儀器新裝上市強化安全識別 (2010.01.18)
2010年開春之際，安捷倫（Agilent）即於今日（1/18）召開記者會宣佈，推出新型AgilentU1210系列掌上型電流鈎表系列，該儀器最高可量測1000 A的大電流，適用於直徑達2英吋的接線

NI與DENSO Robotics為工業機器人共構新應用 (2010.01.18)
美商國家儀器（NI），以及透過機器人技術進行自動化製造商DENSO Robotics宣佈，將整合NI量測/機器視覺技術與DENSO機器手臂，以提供絕佳的新應用。此項合作將針對自動化測試、研究，與彈性的製造應用，提升相關產能與效能

NI擴展RF與微波測試作業的組合 (2010.01.14)
NI近日發表新的二款RF訊號處理模組，不僅提升PXI架構RF與微波測試系統的彈性與精確度，更進而擴充自己的自動化測試產品系列。在如RF訊號路徑衰變模式、場強計量，與接收器測試的應用中，工程師可使用新款NI PXI-5695 - 8 GHz可程式化RF衰減器，搭配向量訊號產生器，於低功率提升RF訊號的品質

德州儀器類比說明會 (2010.01.13)
德州儀器推出業界首款採用獨家封裝技術的功率MOSFET，能實現從頭到尾的全面散熱效能！TI亞洲區市場開發電源管理協理羅偉將介紹這一系列功率 MOSFET 產品及其傲人成果

安捷倫數位量測體驗營---親身體驗先進量測工具 (2010.01.13)
示波器是基礎電子以及數位研發工程師最普遍的量測儀器。許多公司新進的研發工程師因為沒有時間深入瞭解示波器的功能以及正確的使用方法，因而浪費了許多寶貴的時間在電路除錯上，不僅拖延了產品出貨的時間，也得罪了下游客戶