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CTIMES / 產品檢查
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
NEC運用AI 協助製造業生產現場產品檢查 (2017.07.17)
對製造業來說,以往要確認產品完成,多採用人眼目測檢查的方式,但這必須由擁有高度技術與知識的專家來進行,因此面臨了人力不足、技能傳承的課題。另一方面,為了將AI與IoT技術運用在製造業,從實際驗證到導入安裝的過程急遽加速,並藉由共享知識、運用ICT技術,讓相關業務更有效率

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