Mentor Graphics最新Tessent ScanPro實現測試資料量壓縮效益 (2015.10.13)

Mentor Graphics公司（明導國際）推出新款 Tessent ScanPro 產品，該產品採用的技術可以顯著減少使用Tessent TestKompress ATPG 壓縮方案的測試資料量。由於測試資料量很大程度上決定了測試積體電…

意法半導體採用明導國際DFT工具為先進IC測試 (2009.02.26)

明導國際(Mentor Graphics)今日（2/26）宣布，意法半導體(STMicroelectronics)已採用TestKompress自動化測試向量產生(ATPG)產品，融入該公司標準的65nm與45nm設計套件中。這個測試流程將…

奈米級IC測試挑戰 (2005.05.05)

過去數年，數位電路的測試方法一直隨著科技演進。其中，首次的最大改變是從晶片I/O的功能性測試（以邏輯模擬測試向量為基礎）轉變成以掃描（scan）為基礎的測試方法。當測試的複雜度增加時，以功能性測試法來檢測製程的缺陷（defect）將變得越來…