解決QFN-mr BiCMOS元件測試電源電流失效問題
高成本效益的實用系統方法
作者＼Antonio R. Sumagpang Jr.等人
本文探討一套解決晶片單元級電測試過程電源電流失效問題的方法，並介紹數種不同的失效分析方法，例如資料分析、實驗設計(DOE)、流程圖分析、統計輔助分析和標杆分析。
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