美商安可科技(Amkor Technology)引進最新RF器件測試系統，有效地把測試時間減少達80%。此系統主要以一個基礎軟件優化標準工業工具系統來縮短測試時間。例如為雙頻功率放大器(PA)的RF測試，使用一般的ATE測試儀通常需要1.8秒，但採用安可的全新測試方案只需470毫秒(ms)。低噪聲放大器(LNA)以一般ATE測試器進行測試需1.3秒，新系統只需170ms。新系統除了縮短測試時間，購置成本亦遠比其他同類型產品為低。
據安可全球測試服務部副總裁Joe Holt表示安可一直致力為客戶提高技術質素的同時不斷減低成本，新設備正好具備這些條件，在一些情況下，測試時間和成本減少能令整體測試成本下降80%。
除了上述的LNA和PA，新系統亦可用作高量測試如混合器、RF開關、相位同步回路和電壓控制發生器等。而根據業內市場分折機構IC Insight表示，2004年所有無線和流動通訊器件包括基站和轉換系統市場將增加一倍。
安可為所有半導體技術範圍提供全面的測試開發和高量產服務，並於美國加州聖荷西、肯薩斯州Wichita、阿里桑拿Chandler、韓國、日本和菲律賓設有測試開發中心，並不斷擴充中國大陸和台灣的設備供應。
