惠瑞捷Flash及DRAM测试平台获年度产品创新奖

惠瑞捷公司 (Verigy) 宣布其V6000测试系统荣获Frost & Sullivan 2009年度产品创新奖。V6000系统於2008年底推出，可在同一平台测试快闪记忆体与DRAM记忆体，大幅降低测试成本。多功能的V6000可调整适用於半导体记忆体的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆测试 (Wafer Sort)、以及终程测试 (Final Test) 等。

惠瑞捷记忆体事业部??总裁Gayn Erickson表示，rost & Sullivan的获奖肯定了我们前瞻性的创新能力。V6000系统只需一半的脚位测试成本便可提供四倍的并行测试能力，单次触压 (one-touchdown) 即可进行针测。它具备的多功能与可扩充性可让客户仅需更换新的测试程式与探针卡或是测试载板，即能在单一测试系统上切换测试NAND或NOR快闪记忆体、DRAM以及多晶片记忆体。V6000测试系统的高度弹性可大幅减少客户的资本设备支出，进而使客户能因应市场变化而迅速调整不同记忆体的产量。

...
...

另一名雇主	限られたニュース	文章閱讀限制	出版品優惠
一般使用者	10/ごとに 30 日間	0/ごとに 30 日間	付费下载
VIP会员	无限制	25/ごとに 30 日間	付费下载