惠瑞捷针对其生产验证设备新增功能提升扩充性

惠瑞捷（Verigy）在日前宣布，其经生产验证的V93000平台中，新增了 Direct-Probe解决方案，进一步提升该平台的扩充性。该平台针对数位、混合信号，和无线通讯积体电路的高性能针测产品，进行量产、多点针测。

新的 Direct-Probe 创新型射频解决方案，可降低射频设备、高接脚数数位设备以及复杂的混合信号设备的测试成本，将可协助全球半导体市场，能快速向高性能针测和晶圆级晶片尺度封装转型。

惠瑞捷的 V93000 平台，在增加 Direct-Probe 射频解决方案後，消除了晶圆和测试机之间的传统机构介面，从而减少了讯号路径连接点的长度和数量，提高了射频设备测试的信号完整性。此外，扩充新功能的 V93000 ，在设计时可使用适合晶圆探针和终程测试的单测试载板，从而缩短 IC 从开发到生产的时间，使探针和终程测试间的相关工作量降至最低，并实现强大的多点测试能力。
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