NI 展示宽频 5G 波形产生/量测技术━适用於 5G 测试应用

NI於夏威夷檀香山举行的2017年国际微波会议 (International Microwave Symposium，IMS)中，正式展示Pre-5G波形产生与量测技术。这场技术展示主要强调 Verizon 5G 技术论坛(5GTF)与3GPP提议之新无线电 (NR) 实体层，在讯号产生与波形分析的代表性地位。

图一 : NI於夏威夷檀香山举行的2017年国际微波会议 (IMS)中，正式展示Pre-5G波形产生与量测技术。

此次技术展示结合运用了1 GHz频宽的PXIe-5840第二代向量讯号收发器(VST)，以及用於调变及解调的Pre-5G软体。重要的波形调变功能，则包括同时支援离散傅立叶转换展频正交频分多工(DFT-S-OFDM)与正交频分多工存取(OFDMA)，以及弹性的子载波间距与元件载波组态；後者可支援 3GPP 5G NR与Verizon 5GTF规格，且总支援频宽高达1 GHz。此次展示可支援高达 256-QAM 的调变类型，以及包括功率、邻近通道功率与误差向量幅度的量测结果。此项技术展示的传统应用范围包括测试 RFIC，例如 RF 功率放大器、前端模组与收发器。

「在测试与量测作业上，由於NI通常采取软体为主的方式，我们得以随着软体开发一并革新PXI测试系统」，NI无线设计与测试部门??总裁 Charles Schroeder 表示。「透过这类做法，工程师日後便能采用目前用来测试 LTE-A与 LTE-A Pro产品的相同VST架构测试系统，来测试 5G 产品。」
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