自动测试设备（ATE）是指用於检测电子元件功能完整性的相关装置仪器设备。这些测试装置透过讯号的产生与撷取，并捕捉元件的回应来检测元件的品质与特性是否良好。在半导体元件的生产过程中，ATE测试通常为晶片制造最後的一道关键流程，用於确保晶片的品质良好。

安驰科技ADI产品线应用工程经理高富华

安驰科技ADI产品线应用工程经理高富华指出，对於需要高性能、高性价比的IC自动测试应用，ADI可以提供更高度整合的引脚电子元件（PE）、元件电源（DPS）和叁数测量单元（PMU）等。这些特定针对ATE应用的产品，以及ADI标准方案的各种组合（包括MEMS开关、高性能转换器和RF收发器等）都，能够在负载板中提供满足最新测试要求的各种自动测试解决方案。

高富华说，以目前ADI主要的市场，可分为讯号SOC的应用（包含MCU的测试），以及RF测试量测等。ADI提供了AD936X系列射频收发器，这是针对一系列完整的无线电所设计的单晶片解决方案，整合多种功能包括一个射频前端、混合信号基频、频率合成器、模数转换器和直接变频接收器等，工作频率范围覆盖可从70MHz到6GHz。可以说在RF晶片测试中，ADI已经解决了最困难的射频前端挑战。後端只要用FPGA来进行资料的撷取与分析，即可实现RF测试。

对於ATE结合AI的议题，高富华认为，关键在於找出IC测试领域中，能真正发现问题，且测项也最少的叁数，这就必须透过数据的整合与分析，若能与AI进行结合，就可以清楚知道哪个测项在量产过程中，可以用最快速与最少的测项，来得到最经济的测试成效。这就必须透过测试系统与後台云端资料来进行结合。

事实上，ATE一般是针对电信讯号来进行量测，而对於智能化工厂来说，更需要对於压力、机械特性与温度、震动等要求，都会影响到测试的品质与结果。以ADI目前所提供的CbM解决方案，正是用於智能工厂中的各种感测需求所打造，来提供更好的测试品质。