安立知助村田制作所开发USB 3.2杂讯抑制解决方案

Anritsu 安立知宣布，村田制作所 (Murata Manufacturing) 使用 Anritsu 安立知的频谱分析仪，成功解析了 USB 3.2 通讯过程中导致杂讯产生的机制。

图一 : 安立知助力村田制作所开发 USB 3.2 杂讯抑制解决方案

USB 3.2 通讯过程中所产生的高频杂讯会导致无线区域网路 (WLAN) 和 Bluetooth 无线通讯装置的通讯速度降低、通讯品质下降等主要问题。

村田 Murata 建立了符合 USB-IF 标准组织 USB 3.2 RFI 系统级测试的电磁杂讯测试环境，并於该环境中使用 Anritsu 安立知的频谱分析仪/讯号分析仪 MS2830A，厘清了导致杂讯产生的机制。
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