是德科技低頻雜訊量測系統獲中國賽寶實驗室用於元件可靠性研究

是德科技（Keysight）日前宣佈中國賽寶實驗室（CEPREI Laboratory）採用Keysight EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）進行閃變雜訊（1/f雜訊）和隨機電報雜訊（RTN）的量測與分析，以增進半導體元件（包括MOSFET、HEMT和TFT等）可靠性研究。

圖一 : 是德科技低頻雜訊量測系統獲中國賽寶實驗室採用，以增進半導體元件（包括MOSFET、HEMT和TFT等）可靠性研究。

Keysight EDA的E4727A高效能型低頻雜訊分析儀可進行快速、準確且可重複的低頻雜訊（LFN）量測。E4727A支援閃變雜訊和隨機電報雜訊的晶圓映射量測和資料分析，並提供可重複和可靠的量測結果，特別適合用於半導體材料和積體電路製程的開發、驗證和監測。

賽寶實驗室又稱中國電子產品可靠性與環境試驗研究所，為中國的科技研究機構，致力於電子產品的品質和可靠性研究。直接隸屬於中國工業和資訊化部（MIIT）的賽寶實驗室，不僅每年為工信部和地方政府的產業管理提供技術支援和服務，同時也為上萬家電子資訊公司提供相關服務。
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