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Pspice全能测试电路
 

【作者: Soufiane Bendaoud】2006年11月03日 星期五

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在过去几年中,Spice模式毫无疑问的在市场上被广泛采用。一方面是由于IC制造商努力的向客户提供精确的模式,另一方面则是系统设计工程师也逐渐要求采用更加精确的模式,在这过程当中,无形地促进了Spice巨集模式(macro model)的创新发展。


许多IC公司都自认为拥有最佳或具革命性新特性的模式产品,但他们往往未能向使用者提供用于验证其巨集模式精确度的测试电路。而最常用的模式,应该是运算放大器巨集模式。精确的运算放大器巨集模式非常有用,但对于一般使用者而言,这种模式会带来严重的问题。


大多数系统设计工程师在将运算放大器巨集模式实作到综合性电路之前,都会对其进行测试。但不幸的是,面对错误的模拟结果,系统设计师会直接向IC制造商的应用工程师抱怨,指称其开发模式毫无用处、一文不值。而当应用工程师试图了解问题模式运作的具体情况时,得到的回答却是「哦,在采用贵公司竞争对手提供的另一种模式时,电路就能得出正确的结果。」
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