帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES / 文章 /
LM-80 For ENERGY STAR : LED元件流明維持率驗證
 

【作者: 曾劭鈞】   2011年09月01日 星期四

瀏覽人次:【4971】

LED燈具相較傳統照明的優點為其高效能/長壽命,目前各家LED廠積極導入產品進入LED燈具照明市場,但消費者實際使用後的觀感卻是LED燈具似乎未如想像中的長效能,經過半年的使用就可發現色溫/亮度不均的問題,且其價格尚未能貼近消費者的期望,因此大多數消費者仍停留在觀望的階段。


根究其原因在於目前的LED壽命預估並未有一套標準可讓廠商遵循,LED燈具廠與LED元件廠的實驗方式也不一致。


LED元件廠量測方式

此定位系統是由14個telos motes所組成,沿著走道每隔十公尺放置在系館的天花板上。這14個motes將作為beacon的發射器,每隔200ms會發出一個帶有自己編號(ID)訊息的封包。本系統採用類似於MoteTrack的方法,依據預先收集的訊號強度特徵地圖(RSSI-Signature map)與追踨當下目標物收集到的訊號強度特徵進行比對來估算位置。


為了讓LED元件維持在Ta(Ambient Temperature)=Tj(Junction Temperature) =25℃的溫度下工作,LED元件在未加散熱片並使用脈波方式進行壽命實驗,因此一般在規格書上可見到其效能數據的溫度是Tj=25℃。


LED燈具廠量測方式:

LED燈具為成品,壽命實驗則是使用定電壓/定電流的方式進行,但LED燈具內包含電源供應器/燈罩/散熱片,且為多顆LED元件所組成,因此實際LED元件的工作溫度高於實驗的環境溫度Ta=25℃(Tj>Ta)。


LED的壽命與其使用溫度成反比,因此若LED燈具廠直接採用LED元件的壽命數值作為規格時,消費者看到規格與實際使用的落差也就因此產生。


有鑑於此美國能源部(DOE)下的環境保護局(EPA)所頒發的能源之星(ENERGY STAR)提出了LED固態照明燈具的驗證方式,其內容中表示若要取得其LED固態照明燈具的認證須檢附五項資料:


1.依照IESNA LM-79實驗方法產出的光度測試報告。


2.依照IESNA LM-79實驗方法產出的積分球輸出測試報告。


3.流明維持率:


‧選項一:LED元件性能


 ◎依照IESNA LM-80實驗方法產出的LED元件測試報告。


 ◎提供LED燈具的ISTMT(LED元件原位置溫度測試)報告。


‧選項二:LED燈具性能


 ◎依照IESNA LM-79實驗方式產出的6,000小時測試報告。


4.電源供應器


‧提供LED燈具的TMPPS(原位置電源供應器溫度測試)報告。


5.保固方式


在流明維持率的選項一中需要進行兩項的數據實驗,其目的就是要以LED元件的LM-80各項溫度實驗報告推算LED燈具的壽命,如此便可解決元件與燈具不同溫度所對應的壽命問題。


依照能源之星的標準,將固態照明燈具應用分成兩類,其要求規格與實驗標準如表一



《圖一 表一: ENERGY STAR固態照明燈具壽命要求》
《圖一 表一: ENERGY STAR固態照明燈具壽命要求》

顧及產品上市時間及數據有效性,按照能源之星與IESNA LM-80的標準,實驗時間至少需要6,000小時,參照圖二說明。



《圖二  ENERGY STAR壽命要求圖式》
《圖二 ENERGY STAR壽命要求圖式》

了解能源之星的要求後,接下來討論LM-80的規範內容,LM-80中實驗方式為使用3種測試溫度,分別為55℃/85℃,第三溫度點由廠商自訂,前文中有提到利用LED元件的LM-80報告推算LED燈具光衰壽命,使用下列的範列說明:


LED元件使用25℃/55℃/85℃進行LM-80實驗,6,000小時的結果如下表二:



《圖三  表二:LM-80實驗結果數值範例表》
《圖三 表二:LM-80實驗結果數值範例表》

廠商使用該LED元件於LED燈具上量測的溫度(TMPLED)為以下三種情況時,LED燈具的光衰壽命計算,可參閱圖四:


1.TMPLED ≦ LM-80測試最低溫度(25℃):


LED燈具直接使用LM-80報告25℃數值作為其光衰數值。


2.LM-80低溫(25℃/55℃) ≦ TMPLED ≦ LM-80高溫(55℃/85℃) :


套用公式1,進行LED燈具光衰壽命推估,若LED燈具溫度為75℃,


經計算後可得知該LED燈具的光衰維持率為93.6%。


3.LM-80測試最低溫度(85℃) ≦ TMPLED:


LED燈具無法使用LM-80報告中光衰數值,須採用燈具ENERGY STAR中燈具點亮方式進行,或LM-80進行更高溫度測試。


《圖四  公式一》
《圖四 公式一》

《圖五  LED燈具溫度與LM-80實驗溫度光衰說明範例》
《圖五 LED燈具溫度與LM-80實驗溫度光衰說明範例》

經由LM-80的實驗搭配In Situ的溫度量測,LED燈具廠便可有一套計算壽命的依據,若需要計算更長時間(如:50,000小時)的流明維持率數值則需要搭配IESNA目前正在討論中的TM-21推估公式來進行計算,此份文件預計2011年將會產出。


LM-80的實驗目的為計算LED元件的平均光衰維持率,其實驗時間長達6,000~10,000小時,因此建議廠商的LED產品至少要先執行過一般的可靠度實驗(如:HTOL/WHTOL/HTSL…等)確認產品無可靠性問題後再執行LM-80的實驗,如此便可降低LM-80實驗執行過程中的風險。


結語

2008年出版的IESNA LM-80在規範中有許多部分未交代清楚,例如:


1.Ts(Case Temperature)的重複定義,此部分常造成讀者無法釐清Ts指的是實驗的目標殼溫還是實際量測的殼溫,如Ts≧Ts-2℃、Δ[Ta-Ts]≦5℃,未有清楚的說明可能因此造成誤判或誤用。


2.Ta未有指定量測位置,接近LED或遠離LED量測Ta溫度可能會造成實驗的結果不同。


3.Airflow未訂定風速,僅說明Minimized,實際LED燈具在使用時其實不會有類似Chamber的強制對流的環境,只有本身的熱對流,此部分未定義也可能會有實驗結果誤差的產生。


4.製程變更的實驗要求,僅在LED燈具中有描述方法,但在LED元件中卻未提及,比如色溫不同是否需要重新認證?此部分常讓廠商不知如何訂定實驗計畫。


以上項目在2011年的LM-80版本應會有較明確的說明,屆時應該能讓我們能更清楚規範的要求。LM-80的實驗已經讓LED元件及燈具廠商有了一套共同的標準及語言,對於LED元件廠商來說提供LM-80的測試報告已經是進入LED固態照明燈具的基本門檻,希望能藉由此文章讓國內LED廠商們加速了解此實驗,並取得國際認證。


---作者任職於宜特科技可靠度工程處經理---


相關文章
AI高齡照護技術前瞻 以科技力解決社會難題
3D IC 設計入門:探尋半導體先進封裝的未來
SiC MOSFET:意法半導體克服產業挑戰的顛覆性技術
意法半導體的邊緣AI永續發展策略:超越MEMS迎接真正挑戰
CAD/CAM軟體無縫加值協作
comments powered by Disqus
相關討論
  相關新聞
» 艾邁斯歐司朗全新UV-C LED提升UV-C消毒效率
» 工研院攜手凌通開創邊緣AI運算平台 加速製造業邁向智慧工廠
» 工研院IEK眺望2025:半導體受AI終端驅動產值達6兆元
» ASM攜手清大設計半導體製程模擬實驗 亮相國科會「科普環島列車」
» TIE未來科技館閉幕 揭曉兩項競賽獎得主


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.220.242.160
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw