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统计型时序分析
一针对制程误差的时序良率的分析利器

【作者: 陳中平,劉睿翔】2007年08月20日 星期一

浏览人次:【4117】

随着VLSI制程分辨率的快速缩小,甚至比optical lithography所用的光波长还小时,制造的控制误差愈来愈无法精确的控制,而不可避免的是在同一制造环境下,许多误差常呈相类似的统计分布,并且呈现许多相关性时。若IC设计不考虑相关性,而只用一些简单分布的情况做为设计依据,则许多原可利用的margin将浪费掉。为充分利用此一特性,最近在数字IC的时序领域,热切提出了一种新的时序分析方法--统计型时序分析(Statistical Timing Analysis-SSTA)。




《图一 VLSI 分辨率及lithography波长的关系(courtesy from Intel)》



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