自動化量測具備高彈性特色，為競爭日益激烈的電子產品製造商，提供了高性價比的量測解決方案，從大方向來看，自動化量測從2010年開始，有五項較為明顯的趨勢，這些趨勢將使的此一產業出現與以往不同的面貌。

相較於單機式量測技術，自動化測試大量應用了各類PC技術，雖然整體效能較弱，不過具備了開放性與模組化特色，讓自動式測試具備了高度彈性，無論在系統擴充或採購成本，都更具優勢，尤其在自動化測試導入PCI Express後，傳輸速率大幅提昇，應用領域快速拓展，就目前來看，自動化測試技術在2013年後會走向幾個趨勢。

圖一

首先是標準化，現在各類產品面臨的上市時間壓力愈來愈大，為提昇研發、生產效率，系統標準化成為必須，系統標準化才能促使作業標準化，整體運作狀態也才能被有效評估，要進行自動化量測標準化，可以從軟硬兩個部份進行，硬體面是讓設備在嚴苛標準與全無標準的光譜兩端取得平衡，全無標準會導致標準不一，無法依需求調整生產作業時間，致使產品上市時間拉長，品質也難以控制，反過來看，若標準太過嚴苛，會導致設計過於保守且廢品過多造成成本高漲，要在兩者之間的平衡拿捏，可透過標準化平台來達成。

標準化測試充分掌握品質

標準化平台具備了必要的測試功能，而且其彈性化架構可依各企業需求不同而調整，導入後企業在反覆測試微調，找出最符合需求的標準，之後便以此作為作業核心標準，即可取得最佳效率。

軟體面是利用通用軟體架構來建立系統通用介面，通用模組化軟體可用來處理資料庫、報表紀錄、硬體抽象層與操作介面，同時軟體也應具模組化設計，以便可隨時插入、更換測試指令碼，標準化軟體也可讓工程師更專注研發項目，不必分心開發測試管理與企業連結方案。

多通道RF測試拓展全新領域

第二部份是多通道RF測試，RF以往是自動測試系統的弱項，不過在PC技術大量導入後，已逐漸將應用觸角延伸到此，自動化測試在RF將會鎖定兩大領域發展，包括MIMO（Multi-input Multi-output，多點輸出輸入）與SoC（System-on chip，系統單晶片），MIMO在RF技術的優勢，是在不必更動頻寬的作為下，提昇資料傳輸量，SoC則是在單一晶片下，整合不同射頻技術，這兩者都會引發量測新需求，在此情況下，工程師就會需要多通道的RF量測設備，以利同時進行多方測試。

多通道的需求來源，在於現在電子產品的高整合性，以智慧型手機來說，現在都會具備多種無線傳輸技術，例如WCDMA、藍牙、WLAN、GPS等，這些無線技術若都建在SoC，使用多通道儀器就可大幅提昇測試量，減少測試次數，讓儀器的效能得以順利發揮，雖然現在已有多重RF同步化儀器，不過無法達到相位同調，自動化量測可以完整同步化各組RF儀器的局部震盪、ADC取樣時脈達到真正的相位同調。

P2P運算有看頭的新領域

第三個趨勢是點對點運算（Peer to Peer ，P2P），這是指在分散式架構下，處理多重節點的作業方式與資源分配，在資料量龐大的領域中，不可能像PC一樣只用一組核心進行運算，而是建置多組核心運算，再彼此串連，這類傳輸的拓璞方式，每秒鐘至少要能傳送數個Gigabyte的資料，而且成星狀，點與點之間可互相傳遞，不必經過中央集線，而且要在1秒鐘之內完成資料擷取與訊號處理。此外更重要的是，使用者可客製化處理節點，就目前來看，可以滿足這些要求的只有PCI Express，PCI Express被認定為唯一可讓客製化測試儀器的資料傳輸量，達到上述需求的匯流排。

點對點運算需要的分散式、高效能架構，其實到目前為止都仍未完全成熟，未來將有更多的創新技術應用於此，而從長遠來看，點對點運算已是大勢所趨，接下來的傳輸量只會愈來愈大，測試需求也會漸趨複雜，自動化測試設備的彈性化與客製化特性，可充分貼合測試需求，在短時間內組成適合儀器，提昇測試效率。

更複雜的嵌入式架構

第四個趨勢是嵌入式設計與測試，嵌入式系統架構現在愈來愈複雜，這不但使得測試程序必須更多樣，也讓檢驗使用範例時難度更高。在此情況下，測試者必須簡化設計與測試程序，而這些程序往往又必須重寫測試程式碼、測試範例等，這些程序都會對開發商帶來沈重的人力與資源負擔，同時也會影響產品上市時間。

要解決這些問題，可利用自動化測試的重複設計與測試特色，來減少設計流程中的測試次數，不必再像現在，必須不斷嘗試在開發程序中，重複利用測試模型的方式，現在的即時測試軟體都可再次使用測試作業，因此可以避免程式碼傳輸與重新撰寫，這些造成系低落的問題。

FPGA提昇可重設性

第五個趨勢是可重設式的儀器，測試儀器的重設原因相當多，像是測試需求重定、儀器送修時的替代品等，現在有廠商推出具有FPGA的自動化量測設備，讓系統的重設能力更強。

FPGA是現場可編輯邏輯陣列閘，與ASIC（特殊應用IC ）不同的是，FPGA可以重複編輯程式，讓工程師可以設定晶片以建立客製化功能，FPGA的可重設特性，讓使用者在重新編譯不同的電路組態時，可立即賦予完全不同的特性。

其實FPGA應用於量測儀器有有超過10年的歷史，不過實際嵌入自己邏輯的工程師並不多，主要原因在於工程師必須熟悉Verilog或VHDA等語言，以初階語法描述硬體行為，才能有效發揮FPGA的技術。

就應用面來看，目前軍事與航太等領域，使用FPGA儀器都已有多年歷史，現在自動化測試儀器廠商，計畫把產品推廣到在一般消費性產品，乃至於汽車、醫療、交通等領域。