是德科技（Keysight）日前宣布将于2月1日至2日在美国加州圣克拉拉会议中心举办的DesignCon 2017大会中展出其高速数位解决方案。是德科技技术专家和应用工程师将展示最先进的设计和测试解决方案。这些解决方案专为克服当今最棘手的高速数位量测挑战而设计。是德科技为2017年DesignCon的主要赞助机构。

是德科技将展示400G/PAM4设计所需的全新量测技术,以及新的数位互连测试系统参考解决方案和实体层测试系统(PLTS)2017.

此外，是德科技产业专家将主持8场免费的40分钟教育讲座，探讨的主题包括USB TYPE-C、信号和电源完整性、400G/PAM-4、PCIe4、DDR4/LPDDR4、资料分析，以及IBIS -AMI模拟基本原理。凡于是德科技摊位填表登记者，是德科技将于会后免费提供简报档和影片档。

是德科技服务与支援专家将在摊位中，现场解答经过认证的校验、技术更新服务、培训和咨询服务等相关问题。

展示的解决方案

1. USB 3.1/Type-C Tx/Rx/PD测试: 是德科技将展示最新的USB Type-C发射器和接收器测试解决方案，可正确地评估并验证USB设计。另外还将展出使用配备TDR选项的网路分析仪的缆线和连接器测试解决方案。

2. PCIe Rx/Tx测试: 是德科技将展示完整的工具和技术，工程师可用来测试PCI Express 4.0装置，可全面满足发射器和接收器的实体层Gen4要求。

3.信号完整性和电源完整性: 是德科技将展示一致的信号和电源完整性分析解决方案，包括可快速提供洞察力的全新设计和测试技术，以及新的通道模拟技术。

是德科技的实体层测试系统（PLTS）2017是新的软体版本，具有PAM-4眼图、通道运作边限（COM），和适用于制造自动化应用的SCPI命令介面。

是德科技将展示其新的 数位互连测试系统参考解决方案，可用来启动多埠互连产品的信号完整性特性分析。

4. 400G/PAM-4: 是德科技将展示新的量测技术，包括新的M8040A高度整合型64 Gbaud高效能BERT，可用来测试电气和光学PAM-4发射器和接收器。

5. 资料分析: 是德科技将展示新的 资料分析软体功能，以满足资料管理需求，并提供和高效率且直觉的量测分析。

6. DDR4/DDR5记忆体测试和验证: 是德科技将展示如何针对DDR/LPDDR汇流排上的讯务和系统的电源完整性，轻松撷取交互关联的量测结果，并同时展示创新的新的探量和除错技术，让工程师能更快地深入洞察其高速记忆体系统。

7. 灵活的多阶信号产生: 利用其M8195A和M8196A AWG，是德科技将展示如何产生多位准信号，如HDMI、MIPI和PAM-16 802.3bz。