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光电周LED展区 致茂盛大展出全系列LED测试
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2008年06月11日 星期三

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国内量测仪器大厂致茂电子在今年光电周LED展区,针对当今最热门的LED产业推出全系列的制程测试解决方案。由于LED具备轻巧、节能、环保、耐用、高亮度等多种优异特性下,逐渐在各个产业的应用上崭露头角。以LED的制程来说,从上游的磊晶(EPI)、中游的晶粒(Chip Process)、到下游的封装(Package),即可完成一个LED模块,并可多样化地发挥在信息显示、光源、照明、通讯传输、遥控感测等功能应用上,市场规模相当庞大。

致茂电子所开发的LED测试设备是应用于中游芯片切割前后及晶粒扩张前后,针对晶粒的电性、光学及静电放电(ESD)测试,并可结合点测机(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作接口,轻松快速地检测LED芯片及晶粒。针对现在最火热的背光源(light bar)应用,致茂已推出系列机种,能量测light bar模块之电性与光学特性。除此之外,为满足客户不同需求,致茂提供各种客制化的LED电性、光学测试设备,降低制造成本,提高客户在同业的竞争力。

致茂电子于今年台北光电周6月11~13日期间,假台北世贸展馆一馆完整展出(摊位号码A211等2个摊位),会中将展示LED一系列测试新产品,有PXI LED测试系统、LED Wafer/Chip点测机...等,展会上将有实机展示。

關鍵字: LED  LED测试  致茂 
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