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安捷伦将于2007欧洲微波会议展LTE测试解决方案
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2007年10月02日 星期二

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安捷伦科技(Agilent Technologies Inc.)将在2007年欧洲微波会议中展出多款最新的3GPP LTE测试与量测解决方案。该活动将在10月8-12日于德国慕尼黑2007年欧洲微波周中登场。安捷伦LTE解决方案拥有领先业界的效能和功能,可协助研发工程师针对新一代行动通讯产品,来加速开发他们不断演进的LTE设计。

安捷伦电子量测事业群总经理申义龙表示:「身为量测产业领导厂商,安捷伦致力于为现今的工程师提供根据LTE有效且有效率地设计产品所需的资源。这些最新款LTE量测解决方案再次证明我们的决心,并使工程师能够及早掌握此快速发展的技术。」

安捷伦将于会中展示89601A向量信号分析软件的LTE选项以下的解决方案、针对3GPP LTE推出的N7624B Signal Studio、Agilent 3GPP LTE Wireless Library (E8895),其可支持2007年7月所发布有关LTE物理层规格在1.4, 1.6, 3.0/3.2, 5, 10, 15和20 MHz带宽下的标准(36.211 V1.2.1, 36.212 V1.2.3)

一并展示的还有安捷伦LTE Connected Solutions,其整合安捷伦的信号产生和分析设备与ADS仿真环境,为研发工程师提供一套完整的测试解决方案。LTE信号可在使用ADS LTE Wireless Library进行仿真的过程中产生,然后下载到Agilent ESG或MXG信号产生器,以形成待测装置测试所需之真实的物理信号。这些LTE信号(基频和RF)可利用安捷伦的逻辑分析仪或VSA软件来加以分析。

關鍵字: Agilent  申義龍 
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