账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
对抗云端中心爬行腐蚀 宜特举办对策研讨会
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2012年06月21日 星期四

浏览人次:【4093】

为协助系统厂、电路板商,可以更准确掌握并预测爬行腐蚀成因,宜特科技将于7/25举办「云端数据中心爬行腐蚀关键因子剖析与对策研讨会」。

宜特科技表示,全球环境日渐恶化,近几年在温湿度高的硫化环境中,电子产品系统、电路板、连接器与组件产生爬行腐蚀(Creep Corrosion)现象,甚至使电子产品提前失效,影响产品的寿命与可靠度;尤其在云端数据中心、服务器等高可靠度关注之网通产品,受到爬行腐蚀现象的威胁,受到各大厂的广泛关注。

此次研讨会,宜特科技透过与当今国际系统大厂、电路板厂等共同研究,剖析造成爬行腐蚀的关键因子,并针对当今业界应用广泛的耐腐蚀性测试方法-MFG(Mixed Flowing Gas)混和气体腐蚀实验,找出预防措施与因应对策,欢迎业界先进一同前来共襄盛举。

關鍵字: ISTGroup 
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 运用返驰转换器的高功率应用设计
» 解析锂电池负极材料新创公司:席拉奈米科技
» 高级时尚的穿戴式设备
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» 解读新一代汽车高速连接标准A-PHY


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK87HAX8ASGSTACUKS
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw