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KEITHLEY推出ACS 3.2版自动特性分析套件软件
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2008年02月13日 星期三

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美商吉时利仪器(Keithley Instruments)宣布推出3.2版的ACS(Automated Characterization Suite)软件,支持半导体组件测试,以及组件、晶圆、晶舟层级特性分析的功能。全新推出的3.2版本加入了强大的多部位并行测试(multi-site parallel test)能力,大幅提升ACS整合式测试系统的自动化功能,除适用于晶粒分类与新型晶圆层级坐标定位等应用,也能支持Keithley新款具备1fA电流量测分辨率的Models 2635与2636 System SourceMeter仪器。这些新功能组成一个符合高测试弹性与产能速度,且极具价格效益的测试解决方案,同时此方案也适用于实验室和生产设定等无人操作的环境。

關鍵字: 半导体组件测试.晶圆  晶舟  吉时利  測試系統與研發工具 
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