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联盛通讯将举办向量网路分析仪量测技术研讨会
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2000年11月22日 星期三

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近年来基于无线通讯快速发展,高频(RF)主被动元件(Active/Passive)及治具上(Test Fixture)的特性量测实为设计工程上之核心议题,联盛通讯(Rohde&Schwarz)针对此高频元件(电路)的基本量测将于11/28和11/29举办向量网路分析仪量测技术研讨会,会中将提出相关重点讨论如下:1.现代向量网路分析仪之校正技术与原理。 2.如何测量主动与被动元件间之特性及规格。 3.如何获得实际应用模组之功能特性。 4.如何验证全功率输出之探讨。

联盛表示,此次研讨会的重点将着重在量测的技术与仪器的运用上,为提升国内产业在无线数位通讯的时代中精确的量测数据以及运用最先进的仪器发展属于自有品牌的无线通讯产品,进而推广到全球建立新一代的无线通讯规范。

關鍵字: 联盛通讯  測試系統與研發工具 
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