半導體設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)24日發表旗下M4841大量元件分類機在主動式溫度控制 (ATC) 的新功能。ATC 2.0就車用半導體測試期間自生熱 (self-heating) 效應導致的溫度波動提供動態調節，有助確保生產測試更為精準，可滿足多達16顆先進系統單晶片 (SoC) 並測需求，同時提升產出率、縮短測試時間。

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舉凡電動車 (EV) 或其他成長快速之資料密集型汽車應用，譬如車用資訊娛樂系統和即將面市的Level 4自駕技術等，作為驅動力的關鍵元件往往需要進行大量資料處理。隨著半導體製造日新月異，帶動這些先進元件無論在功能還是功率效益上都更進步，但散熱設計功率也跟著增加，導致元件在測試期間自生熱，增加測試溫度控制的難度。於是，追求及時而穩定的元件溫度管理分類機需求就此產生。

新發表的整合化ATC分類機取代先前被動式的溫控技術，讓M4841得以提供持續穩定的測試環境，並具備快速反應和高負載追蹤特性，即使在測試期間出現溫度波動，也能使元件內部溫度維持在固定的測試溫度。這種穩定性能幫助使用者建立具有高靈活度的測試程序，連帶的也大幅提升整體測試效率。

愛德萬測試資深副總 Kazuyuki Yamashita 表示：「我們的ATC技術已在愛德萬測試旗下其他分類機上證明卓越成效，鑒於汽車、工業和其他市場對於高資料傳輸率元件的需求遽增，被動溫度調節已不能滿足我們現有的M4841模型需求。ATC的動態熱感測和冷卻技術與M4841分類機的量產測試能力相結合，創造出價值全面提升的分類機解決方案，提供給我們各大市場領域的客戶。」

愛德萬測試M4841分類機配備ATC 2.0，能做到高達16顆元件並測的高產能測試，從而實現極高元件產量、支援各種複雜IC和封裝。這些先進的效能與功能使M4841成為最理想的測試分類機，有助量產可攜式數位裝置和車用系統等消費性產品中所使用到的元件。

M4841分類機最新ATC選項將於2024年4月推出。