美国国家半导体公司 (National Semiconductor) 推出全球首款 1.5 Gbps 的 2x2 低电压差动讯号传输 (LVDS) 模拟交互传输开关。这款型号为SCAN90CP02 的交互传输开关，不但设有可程序化的预先强调功能，同时还具备符合 IEEE 1149.6 标准的测试能力。此款新芯片的推出将会进一步巩固美国国家半导体在 LVDS 技术上的领先地位。SCAN90CP02 芯片设有加强驱动力的功能，可将增强讯号放大，确保经由高失真底板及电缆传送的数据仍能保持完整无缺，而这款芯片的 IEEE 1149.6 电路则可支持全新标准，方便测试这些底板及电缆。

美国国家半导体的 SCAN90CP02 芯片是一款双输入、双输出的 LVDS 非阻塞交互传输开关，作业速度高达 1.5 Gbps ，适用于多种不同配置，其中包括传统的交互传输开关、缓冲器/中继器、1:2 分裂器及 2:1 多任务器。目前有很多网络及通讯架构设备都将交互传输开关作为分离器或多任务器使用，以便为数据及时钟讯号提供额外的一组开关。

美国国家半导体网络产品部营销经理 Dave Lewis 表示：「市场上其他 LVDS 缓冲器及开关，只能将它们带给系统的震动尽量减少，但SCAN90CP02 芯片则真真正正可以消除颤动，有助提高系统的可靠性，并让用户可以改用成本较低的线路互连。由于 SCAN90CP02 芯片设有加强驱动力的功能，因此不但可以执行正常的开关功能，而且也可作为缓冲器使用，以便现有的可程序逻辑数组 (FPGA)、特殊应用集成电路 (ASIC) 及串联/解串器等芯片的 LVDS 讯号。」

IEEE 1149.6 是最近通过采纳的一个技术标准，让业界可以测试先前无法测试的交流电耦合互联机路。由于许多高速的 LVDS 互联机路都采用交流电耦合 (即电容耦合) 的设计，以便消除驱动器与远程接收器之间的讯号偏移，因此确保新技术能够支持 1149.6 标准便显得非常重要。

IEEE 1149.6 标准制定工作组主席 Bill Eklow 表示：「我们相信这个全新的 1149.6 标准解决了内建测试的一个重大问题。得悉美国国家半导体不仅高度重视这个新标准，而且更推出可支持这个标准的全新 SCAN90CP02 芯片，我们实在感到非常高兴。」

SCAN90CP02 芯片可以支持的测试范围包括 IEEE 1149.1 (JTAG)、IEEE 1149.6 以及由 IEEE 1149.1 启动的错误插入补充功能 (以便核对系统是否出现故障以及是否采用额外的一组开关模式)。这些功能有助于缩短测试时间，以及减低测试与开发方面的成本。