美商国家仪器 (National Instruments, NI) 将于 9 月 3 日至 9 月 5 日于 「2014 SEMICON Taiwan 国际半导体展」 发表最新半导体测试仪，欢迎前往 NI 摊位共同探究、了解 NI 最新半导体测试系统。

半导体芯片的设计难度不断提升，并需要更高阶的测试系统描述效能特性，且进一步提高了测试成本。NI 透过高弹性的硬件平台 PXI，与多 Site 平行测试排程软件，以降低芯片测试的成本。全新的 NI 半导体测试系统 (Semiconductor Test System, STS)，适用于 RF 和混合式讯号生产测试，并搭载 Port Module 可同时进行多埠的 S 参数与调变讯号测试，目前已有多家半导体领导公司采用，大幅提升效能与降低成本。此款半导体测试系统，将是 NI今年半导体展最大的重头戏。

除此之外，我们亦将于现场展示半导体领域各相关应用解决方案，藉由 PXI 平台的弹性与高效能，将可为您带来极高的工作绩效与成果，竭诚欢迎您莅临美商国家仪器摊位参观指教。

【活动信息】

● 展馆地点：台北世贸南港展览馆 (4楼)

● 摊位号码：134