安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，旗下的 Agilent Medalist i3070系列5内电路测试（ICT）解决方案，在4月底的2010年上海Nepcon贸易展中获得两项技术大奖。这些奖项旨在表彰产品的创新和可靠性，对改善现今成熟的SMT制造环境中的产品质量所做的贡献。

该Agilent i3070系列5内电路测试解决方案，被提名为第四届SMT China远见奖，及2010年EM Asia创新奖测试类，并分别在4月20及21日在上海Nepcon展中宣布获奖。此外，Agilent i3070系列5并入围2009年EDN创新奖，及2010年Test and Measurement World最佳测试产品奖决赛名单。

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示，很荣幸获得SMT China和EM Asia创新奖，不光是亚洲，更要感谢全球的客户选择与安捷伦合作。客户的电路板测试需求，以及安捷伦在下一个挑战出现之前预做准备和不断创新的决心，是促进内电路测试技术持续发展的关键。

Agilent i3070系列5是安捷伦最新的内电路测试仪器，其创新特色包括可维持高兼容性，并提供更快的测试速度等额外功能。新的安捷伦公用程序卡，可让用户经由插入式电子来加入自定义功能，使Agilent i3070系列5发挥最大的效益。该系统还提供广泛且弹性的电源管理能力，并可让仍在使用旧款Agilent 3070和Agilent Medalist i3070内电路测试仪器的用户进行升级。