安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）针对光纤组件和系统的研发与制造，在旗下的光纤测试组合中加入6款新的极化分析与控制解决方案。这些新产品可让研究与设计人员以无可比拟的速度和准确度，对所有极化相关参数进行完整的特性描述。安捷伦将在9月17-19日于德国柏林国际会议中心举办的欧洲光纤通讯展（ECOC）中，在15号展示馆的069-074号摊位首次展示这些产品。

这些产品是以安捷伦在2007年6月购并的Adaptif Photonics所开发、且经产业证实可靠的技术为基础。对制造商来说，这个新的产品组合针对校准、调整和最终测试提供了快速又经济的控制与测试解决方案，有助于降低测试成本及提升良率和产能。

安捷伦的新款极化产品与测试解决方案中，N7781A是一款小巧的高速极化分析仪，它具备了分析光纤信号的极化特性之完整能力，包括邦加球（Stokes参数）的极化状态（SOP）再现。而N7782A PER分析仪是为了以高速及绝佳准确度来测试PM光纤的极化消光比（PER）而设计。实时量测能力加上自动化接口，使这款仪器非常适合整合到制造系统中，例如光纤组件的引线处理台；N7783A热循环装置完全由Agilent N7782A PER分析仪所控制，它可为待测光纤提供准确又稳定的温度循环。另外，新的极化控制器系列N7784A、N7785A和N7786A，即使输入SOP因温度偏移和机械稳定过程而产生波动和偏移，也能提供稳定的输出SOP。这可以提升校准和调整过程的速度与可靠度，从而节省时间和成本。Agilent N7786A内建一个偏极计，可提供高速的极化分析能力；在每秒高达1M个取样的取样率下可撷取超过500,000个取样。而N7788A组件分析仪的专属技术可媲美著名的光纤组件琼斯矩阵本征分析（Jones-Matrix-Eigenanalysis; JME）或差动群组延迟（DGD）。安捷伦新的单一扫描技术提供了一组完整的参数，包括DGD/PMD/PDL/二阶PMD、功率 /损耗、TE/TM损耗、主极化状态 (PSPs)、及Jones和Mueller矩阵，这些全都整合在一台测试仪器中。