半导体测试设备供应商爱德万测试（Advantest）发表最新高速I/O（HSIO）卡「Pin Scale Multilevel Serial」，专为V93000 EXA Scale ATE平台设计，此为EXA Scale HSIO卡，也是第一款为满足先进通讯介面之讯号需求而推出的高度整合的HSIO ATE卡。

爱德万测试推出高度整合的HSIO ATE卡「Pin Scale Multilevel Serial」，满足先进通讯介面之讯号需求。

在运算领域已普遍采用的HSIO介面，也使用在HDMI、DisplayPort和USB等消费性介面。在运算领域，PCI Express（PCIe）5.0与6.0正朝数千兆位元资料传输率迈进，当企业针对微控制器、行动应用处理器、高效能运算和人工智慧（AI）元件等大量数位设计及其介面进行测试时，需要以HSIO来应对这些高密度设计。因此，对於新元件设计的特性分析及元件初期制生产阶段来说，HSIO测试至关重要。

Pin Scale Multilevel Serial支援最高32Gbps的资料传输率，也是首款全面高度整合的ATE卡，能够支援高速介面中逐渐普遍的多阶信号技术（例如PAM4）。由於可直接采用数位测试中典型的程式架构，进而减少测试程式开发的时间与成本，可以在新晶片设计生产初期提供额外测试覆盖率。

一般相关产品都需要在测试头顶端和待测物（DUT）间加入整合机制，但是会削弱讯号效能、不利制造整合。Pin Scale Multilevel Serial可全面整合，容易配置到EXA Scale平台上。Pin Scale Multilevel Serial目前正接受多家主要客户初步评估，爱德万测试即将开放预订。