有鉴于IC发展日新月异，传统量测设备已不敷使用，能高电子不断投入开放式架构之自动测试仪器的研发工作，旗下的软件平台有MTS2及GATE两大系统，硬件包含PXI可程序化FPGA母板、PXI半导体测试模块以及测试向量控制卡三大部分。

8月底甫发布的PXI平台半导体逻辑测试模块（OpenATE PE16），最高50Mhz频率，逻辑准位兼容于-1～+6V，每一逻辑脚位讯号卡有16个I/O信道，且采用Per-pin架构设计，每一I/O信道均配备有64M的测试向量内存（Vector Memory）、16组的时序设定、16组的波型（Waveform）设定，以及参数量测所需的PMU功能。

除了提供256I/O sets使用外，Active Load与per Pin PMU之全功能半导体逻辑测试，内含多循序控制指令的测试向量控制（Sequence Pattern Generator），以及逻辑脚位讯号（Logic Pin Electronics ），用以发出待测品所需的电性讯号，并接受待测品因此讯号后所响应的电性讯号而作出产品电性测试结果的判断。

能高电子表示，为降低使用门坎，该公司网站（http://www.openate.com）提供免费下载MTS2软件，用户除了可藉由简单的操作接口，轻易设定自己所需的程序外，还有贴心好用的Multisite功能，可以执行多颗IC并行测试，提高生产效率。

在功能与效能的表现上，由于PXI仪器日益精进普及，用户可以找到高性能PXI模块，其中自行整合系统的功能可与现有大型的IC测试机台比拟，能提供快速且准确的测试，用户只需花费传统设备三分之一左右的价格就可以轻松整合出合乎需求的IC测试系统。

公司负责人郭瑞振表示，基于创立理念，能高电子致力于OpenATE开放式架构的软硬件平台，提供PXI测试仪器，希望PXI系统及测试模块，能像PC一样蓬勃发展，用户只需要购买所需的模块卡片，即可DIY组成自己要的量测仪器。IC Tester DIY？听起来有点不可思议，但确是事实。