爱德万测试 (Advantest Corporation)将在5月22至24日，於吉隆坡新落成的马来西亚国际贸易展览中心 (Malaysia International Trade and Exhibition Centre，MITEC) 盛大举行的东南亚国际半导体展 (SEMICON Southeast Asia) 展示先进产品与服务。爱德万测试为本次大会的银级赞助商。

爱德万测试将在第727号摊位展示其革命性的EVA100量测系统，该系统应用范围广，从工程到量产环境皆适用。扩充性隹的EVA100能同步控制多重测试功能，执行高精准度量测任务，为客户提升测试效率，缩短产品上市时间。

此外，爱德万测试亦将展示创新CloudTesting服务，为半导体设计、电子零件研发、原型测试、失效分析和学术研究提供成本效益高的随选测试解决方案。

同样将在摊位上亮相的还有M4171可移动、Single-site分类机，该款分类机具备自动元件上载与卸载以及主动式温度控制 (ATC) 功能，是工程环境的最隹选择。

5月23日 (三) 下午3：10，爱德万测试资深研发暨应用工程师Shang Yang博士将於「IC失效分析与缺陷特徵论坛」(IC Failure Analysis and Defects Characterization Forum) 发表「以高解析度时域反射技术检测3D晶片缺陷特徵」(3D Chip Defect Characterization by High Resolution Time-Domain Reflectometry) 论文。

爱德万测试亦将於5月24日 (四) 的「产品与系统等级测试论坛」(Product & System Level Testing Forum) 发表两篇论文。上午10：25登场的是新加坡格罗方德半导体公司 (GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte. Ltd.) 测试开发工程经理Ting Jia Wen，发表「5G毫米波未来测试方法在ATE等级的应用」(5G mmWave Future Testing Methodology at ATE Level) 论文。接着在11：05，爱德万测试应用工程师Alvin Siew将以「解决电动车大功率类比IC测试的强烈需求」(Addressing the Robust Testing Needs of High-Power Analog ICs in Electric Vehicles) 为题发表论文。