安捷伦科技日前针对Agilent 16760A逻辑分析模块，推出了眼状扫描（eye scan）模式。这项功能可让高速数字硬件的设计师，取得在各种不同操作情况下设计的所有总线信号的完整信息。这个模块也能将收集有关信号完整性的信息之时间，从几天缩减到几个小时。眼状扫描模式可让用户在多种操作情况下，例如执行不同的软件例程，或以不同的数据负载来激发系统时，同时检视数百个电路节点的眼图。在眼状扫描模式下，Agilent 16760A逻辑分析模块会针对以频率为主的一个时间范围内，且涵盖信号的整个电压范围之活动，扫描其所有接收到的信号。显示结果的方式，与示波器上所看到的眼图很类似。

Agilent 16760A逻辑分析模块提供完备的信号量测，可大幅缩减数据搜集时间达多天之谱。

Xilinx 系统工程处长Ed McGettigan表示：「当数字系统的复杂度与速度皆提高时，就更有必要验证信号的完整性。举例来说，在单一设备提供多个高带宽LVDS总线的几百万个闸，都会采用场式可程序门阵列（FPGA），如Xilinx所提供的Virtex-II系列。工程师通常没有时间利用传统的示波器来执行所有必要的量测，以确认信号的完整性。眼状扫描是Xilinx能够同时从许多频道收集眼图的唯一一种量测技术。它能够同时对数百个信号进行眼状量测，以提高信号完整性的可靠度。」

眼状扫描模式是成功的16700逻辑分析仪系列中新增的一项功能，可为用户提供完善的系统层级除错能力，最适合用于多个处理器/总线的设计。