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【CTIMES/SmartAuto 报导】   2010年04月27日 星期二

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台积电日前宣布该公司符合汽车电子AEC-Q100第一级(AEC-Q100 grade1)高规格要求之0.25微米嵌入式闪存制程,在2009年,部分客户产品的实际行车故障率(field failure rate)已达到低于千万分之一(

考虑每个产品在测试筛选过程中,其数据写入及消除(endurance cycles)及数据保存(data retention)能力的测试数量相当有限的情况下,实际行车故障率低于千万分之一的表现,在嵌入式闪存产品领域显得十分卓越。AEC-Q100第一级规范确保汽车电子集成电路产品能够承担10,000次的数据写入及消除,并能在摄氏零下40度的低温到125度的高温范围内正常运作。

台积电嵌入式闪存业务开发处处长林振铭指出,该公司以0.25微米嵌入式闪存制程为汽车电子应用客户产出高达60万片八吋晶圆,同时建立产品寿命及质量的高规格标准,彰显台积电对汽车电子产业坚实不变的承诺。

關鍵字: 林振铭  闪存 
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