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07/15 新興半導體元件與製程特性測試論壇
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【活動簡介】

     今日的半導體材料、元件與製程技術日新月異,開發者必須充分掌握其技術特性,才能夠充分發揮材料、元件與製程的優勢,完成最佳化、高性能的產品設計。所謂「工欲善其事,必先利其器」,想要掌握這些特性,必須善用先進的半導體特徵分析工具。
     新一代的半導體材料、元件與製程技術需要做到精準的DC I-V、AC阻抗和超高速或暫態I-V量測,這對於測試工作來說是很大的挑戰。此外,對於奈米CMOS製程及新型態非揮發性記憶體等先進半導體產品開發來說,在測試上要求更廣的動態量測範圍、更高的靈敏度,以及更高的可靠性測試能力。
     為了協助國內半導體工作者及研究人士順利進行新興半導體材料、元件與製程的開發工作,吉時利儀器公司與CTimes零組件科技論壇共同舉辦此次論壇活動,為您剖析新興材料、元件與製程特性測試挑戰,新型態非揮發性記憶體開發測試、半導體製程開發測試與特徵分析,以及極高速BTI可靠性測試要領。

授課對象:記憶體、CMOS製程、晶片設計等領域之半導體材料、元件與製程開發及研發工作者
報名費用:活動免費參加
報名/洽詢:(02)2585-5526 分機 135 黃小姐.iris@hope.com.tw
活動地點:新竹科學園區科技生活館202會議室
活動時間:2010年7月15日(四) 13:30-16:30

【活動議程】

時間主題講師
13:10 - 13:30報到(簽到及領取講義)
13:30 - 14:20新興半導體量子元件研發成果與特性量測需求
-鍺量子點(Ge QD)奈米電子之優勢與應用(SET, NW電晶體, 奈米晶點記憶體, 光電晶體管)
-先進QD元件之穩態及暫態電氣特性及量測需求
中央大學電機系
教授暨系主任
李佩雯
14:20 - 15:10新型態非揮發性記憶體開發測試
-快閃記憶體元件開發測試要領
-相變記憶體元件測試測試要領
美商吉時利儀器台灣分公司
江培仲經理
15:10 - 15:30休息與展示交流
15:30 - 16:30極高速BTI可靠性測試
-應用高速I-V測試模組於極高速BTI可靠性測試
美商吉時利儀器台灣分公司
資深應用工程師
廖永淵

*主辦單位保留活動時間及議程最後更動權利,如有變動將另行通知。

報名已截止!

【講師介紹】

江培仲經理
江培仲先生現任美商吉時利儀器台灣分公司客服部經理,負責處理客戶應用上以及售後服務的問題。他已在吉時利公司服務十年 (1999~2010) ,擁有業務與應用工程師的相關資歷,深入了解客戶在測試上的需求,曾獲得兩次 Keithley 公司內部 QSII (Quality-Service-Innovation-Integrity) 獎項。江先生畢業於清華大學電機系,並在中央大學取得企研所碩士學位。


李佩雯
李佩雯博士現任中央大學電機系李佩雯教授暨系主任,她在哥倫比亞大學取得電機博士學位,其研究專長為半導體製程整合與半導體元件物理技術。李博士目前從事鍺量子點(Ge QD)奈米電子的技術研發,這是實現量子電腦的關鍵技術。


廖永淵
廖永淵先生現任美商吉時利儀器台灣分公司資深應用工程師,負責處理客戶應用上以及售後服務的問題。他在吉時利公司服務已滿八年(2003 -2010),深入了解客戶在測試上的需求。廖先生畢業於逢甲大學材料系,並在交通大學電資所取得碩士學位。


【活動好禮】

【報名事項】

活動免費參加

【其他】

.一般免費活動,將由主辦單位進行出席資格審核,通過審核後您將於活動日期前一日收到報到通知信函。
.請於活動當日報到時,以紙本或螢幕出示通知信函中之QRCode/報到編號,以快速完成報到。
.活動當天,若報名者不克參加,可指派其他人選參加,並請事先通知主辦單位。
.若因不可預測之突發因素,主辦單位得保留研討會課程主題及講師之變更權利。
.活動若遇天災等之不可抗拒之因素,將延期舉辦,時間則另行通知。
.報名繳款後自行取消報名者,主辦單位得於七日內辦理退款事宜,並得扣除銀行匯款等相關手續費。
.因故停辦時,主辦單位若無延期舉辦,得於取消日起兩週內辦理退款事宜,且不得扣除相關手續費。

【主辦單位】

 

【協辦單位】

    台灣區電電公會   
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