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艾司摩尔、台积电与imec合作实现12寸晶圆整合创新

於本周进行的2026年IEEE/JSAP超大规模积体电路(VLSI)技术与电路研讨会上,比利时微电子研究中心(imec)携手微影解决方案大厂艾司摩尔(ASML)与晶圆代工大厂台积电(TSMC),共同发表一套创新、稳健且可扩充的12寸晶圆整合技术路径,用於基於2D材料的n型与p型场效电晶体(FET)。这是首次展示搭配50奈米闸极间距(CPP)的微型化nFET(采用二硫化??作为通道材料)与pFET(二硫化钨或二??化钨),并且取得良好的电流-电压特性。这些成果象徵着2D材料电晶体从实验室迈向晶圆厂的关键进展,预期用於超高度微缩化的逻辑元件,以及後段制程和晶背应用。



图一 :   (A)包含50奈米闸极间距的二硫化钨元件之X轴切割高角度环形暗视野扫描传输电子显微镜影像,经过闸极连接线蚀刻後,其接点长度为19奈米、宽度256奈米。以及(B)相应的能量色散X射线光谱仪分析。
图一 : (A)包含50奈米闸极间距的二硫化钨元件之X轴切割高角度环形暗视野扫描传输电子显微镜影像,经过闸极连接线蚀刻後,其接点长度为19奈米、宽度256奈米。以及(B)相应的能量色散X射线光谱仪分析。

2D过渡金属二硫族化物(即TMD,例如二硫化??、二硫化钨与二??化钨)有??延伸并扩展逻辑微缩技术的发展蓝图。当这些材料取代矽材,并作为原子级超薄传导通道进行元件整合时,能够制出具备高性能的微缩化电晶体,对高度微缩的逻辑元件、後段制程与晶背应用来说具备发展潜力。其潜力归功於这些材料的良好静电通道控制能力,同时维持容许范围内的载子迁移率,甚至实现高度微缩的闸极与通道长度。然而,这些材料在导入产业时一直面临阻碍,原因在於缺乏一套12寸晶圆整合技术途径,该途径需要在与产业接轨的元件尺寸下,制造过渡金属二硫族化物(TMD)nFET与pFET,同时还要比照在实验室环境下持续累积大量的测试结果,维持一定的性能表现。


艾司摩尔、台积电与imec现在发表了一套可扩充且与後段制程相容的12寸晶圆整合方法,用於基於过渡金属二硫族化物(TMD)的nFET与pFET元件,其成果分为三点:(1)世界首创达到50奈米闸极间距(CPP)的微缩化nFET与pFET;(2)这两种电晶体的极性在闸极电压为零(Vg=0V)时,展现极低的关闭电流(Ioff);以及(3)搭配二??化钨通道的pFET性能表现已接近创下纪录的实验室元件水准。这套类似於CMOS的整合方法在单片12寸晶圆上整合nFET与pFET,达到高达94%的可操作电晶体(即Imax/Imin >105),成功验证其稳健性与稳定度。此次提出的制程流程可用於二硫化??、二硫化钨和二??化钨以外的2D通道材料。
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