旺矽以TITAN探針結合晶圓級量測 開創次太赫茲精準測試新局

旺矽科技宣布推出支援是德科技（Keysight Technologies）最新 NA5305A/7A PNA-X 擴頻模組的 250 GHz 寬頻測試解決方案，正式開啟次太赫茲應用精準測試的新篇章。此方案結合旺矽在次太赫茲探測與晶圓級量測領域的專業實力，並搭配 TITAN 射頻探針與完整探針台平台，提供高達 250 GHz 的寬頻 S 參數量測能力，展現旺矽在高頻測試技術上的持續突破與創新。

圖一 : 旺矽 TITAN 250 GHz 探針因應是德科技 PNA-X擴頻器需求而打造

這一里程碑是繼旺矽在 200 GHz 技術領域取得突破後的重要進展，同時也體現了與是德科技的緊密合作。透過先進測試儀器與晶圓級量測方案的整合，能滿足半導體與次太赫茲應用領域不斷增長的測試需求。全新解決方案具備高精度、穩定性與可重複性，TITAN 探針不僅提供清晰可視的探針尖端設計，還結合安全與便利的防護機制，協助工程師提升測試效率並降低風險。

解決方案中包含 TITAN 單端式 T250MAK 與差分式 T250MSK 探針，採用全新 0.5 毫米寬頻同軸連接器，針對寬頻元件量測與高速差分測試而設計。TITAN T250 系列探針可與旺矽全系列探針台平台無縫整合，支援溫控晶圓級量測，最大程度減少人工操作誤差，確保系統的重複性與整合效能，並進一步擴展向量網路分析儀的量測能力。

旺矽科技表示，憑藉 TITAN 探針技術與量測系統整合專長，這項 250 GHz 解決方案將成為推動次太赫茲應用與半導體高頻測試市場發展的重要動能，協助業界邁向高頻應用新時代。