安立知完成GCT半導體LTE-Advanced單晶片4X4 MIMO測試

安立知（Anritsu）MD8430A訊令測試儀與Rapid Test Designer（RTD）軟體，成功為GCT半導體公（GCT Semiconductor）完成其4G LTE-Advanced晶片（GDM7243Q）測試。

圖一 : GCT半導體採用搭載配備RTD軟體的MD8430A訊令測試儀驗證其4×4 MIMO性能

GCT半導體是先進4G行動半導體解決方案設計供應商，提供搭載支援LTE 4X4 MIMO載波聚合（CA）技術的先進FDD-TDD LTE Cat. 5/6/7單晶片解決方案。GCT GDM7243Q晶片的運作及其 4X4 MIMO功能已經通過安立知的訊令測試系統測試。4x4 MIMO（Multiple Input Multiple Output）是指在LTE基地台使用4支發射天線，並在用戶設備（UE）裝置內建4支接收天線，以便提高頻譜效率，實現更高資料傳輸量以及改善覆蓋範圍。

安立知的MD8430A LTE訊令測試儀可模擬多達8支發射天線的基地台。GCT的研發團隊採用以安立知RTD軟體控制的MD8430A測試儀，在4x4 MIMO連線下以高達300Mbps的速率進行傳輸，並驗證其晶片能夠在更長的時間週期下保持穩定的連接。

GCT半導體技術長暨研發副總裁Dr. Jeong-Min Kim表示：「GCT信賴安立知的設備來測試 LTE-Advanced晶片，安立知的MD8430A和RTD解決方案已被證明是可支援如 4×4 MIMO 等關鍵性能的平台。」

安立知執行副總裁 Kenji Tanaka 表示：「安立知獲得GCT半導體的選擇，採用搭載RTD軟體的 MD8430A驗證其4×4 MIMO性能。此舉顯示安立知持續協助LTE設備製造商在激烈市場競爭中驗證其尖端技術，並且有效縮短產品上市時間。」