VAMAS國際研討會首度來台 促半導體量測需求接軌國際

當半導體製程持續微縮、量子與二維材料快速發展，量測技術也面臨更高精度與可靠度的要求。由工研院共同舉辦的全球先進材料標準化合作平台「凡爾賽先進材料與標準計畫（Versailles Project on Advanced Materials and Standards；VAMAS）」第51屆指導委員會及國際技術研討會今年也首度移師台灣新竹舉行，邀集美、英、加、日、韓、德等13個國家材料及標準專家，聚焦半導體、量子及新興材料的量測技術，並將台灣產業需求爭取為一線國際標準。

圖一 : 工研院共同舉辦第51屆VAMAS指導委員會及國際技術研討會，邀集全球先進材料、量測及標準專家來台交流，共同推動先進材料量測技術發展。

工研院量測技術發展中心執行長藍玉屏表示，隨著科技持續向奈米、原子尺度發展，量測已不只是驗證技術成果的工具，更是新興科技能否被產業採用、實現跨國驗證並走向國際市場的重要基礎。由於台灣既是全球半導體及高科技產業的重要聚落，更需要積極將產業第一線的量測需求帶進國際合作，掌握全球量測與標準發展趨勢，讓產業技術與國際接軌。

工研院也長期以國家計量標準為基礎，結合前瞻量測技術研發與產業應用，並透過參與VAMAS、亞太計量組織（Asia Pacific Metrology Programme；APMP）等國際平台，持續串聯國際計量機構、研究單位與產業夥伴，從過去「跟隨標準」逐步前進至「參與標準前期研究」，讓台灣的產業需求與技術能量能在國際標準形成過程中發揮影響力。
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