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高速类比至数位转换器之平台测试
 

【作者: Mark Thoren, Clarence Mayott, Derek Redmayne】2008年07月31日 星期四

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高速类比至数位转换器(ADC)是许多通讯和仪器应用的重要部分,相关应用囊括蜂巢式基地台、无线数据基础设施设备、频谱分析仪、软体无线电、医疗诊断设备和RFID读取器等。这些系统可能相当复杂,其具备低杂讯类比讯号处理和高速数位电路的组合,且经常位于同一板面上。而在类比与数位相遇之处,亦即ADC –则是其关键点,其对任一领域之相关问题都是很敏感的。本文将着重于相关测试和应用高速ADC之议题,同时也将提供相关技巧,让您了解如何系统化地进行应用测试。


先取得参考板

每项应用均具备自身对于动态范围、频宽、输入频率和取样率等需求,而其它同等重要的参数,则包含了电源需求及数位介面类型(LVDS、单端CMOS和CMO​​S讯号输出电压位准)。这些要求缩小了对ADC的选择范围,而下一个步骤,便是在平台上评估ADC。
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