近年来，日益广泛而复杂的整合式IC设计与设计时间的压缩，任何在整合软、硬件时所发生的问题，都可能成为整个研发计划失败的致命伤。为了跳脱旧有窠臼，许多公司不得不重新思考其传统的软件设计流程，新的研发流程必须把从观念到软、硬件整合测试(System Integration Test)各个面向都纳入考虑。在新的设计环境下，任何阶段的研发工具不能只针对特殊设计领域，必须能够应用于整个设计流程当中与其他工具互相整合。
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