在现在的电子产业中，微处理器（microprocessor）的重要性无庸置疑。除了被用来当做电脑的中央处理单元（central processing unit；CPU）外，也是许多电子消费产品的大脑。自Intel 4004问世以来至今，随着微处理器在晶片面积、性能与复杂度各方面的快速成长，其设计验证（design verification）与生产测试（manufacturing testing）的难度也随之增加。本文的主题为微处理器的生产测试技术，内容将涵括目前主要的测试策略、在系统晶片（System on Chip；SoC）时代所面临的新挑战以及可能的解决之道。

微处理器模型

如(图一)所示，吾人可将微处理器分割为处理器（processor）与记忆体两部份，而前者又可更进一步分为控制单元（control unit）与资料通道（datapath）。一般而言，资料通道包含对资料进行各种数学、逻辑运算的电路与存放暂时运算结果的暂存器；控制单元则为一有限状态机器（finite state machine；FSM），根据指令对资料通道送出适当的控制信号；记忆体则储存软体程式与资料。
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