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让半导体测试更省时省事
Credence亚洲区总裁朱陵生:

【作者: 鄭妤君】2005年02月01日 星期二

浏览人次:【6095】

本刊社长兼总编辑黄俊义(以下简称黄):Credence在全球半导体测试设备市场耕耘已久,在2004年更宣布购并另一家测试设备业者NPTest,扩大了产品线的范围;全新的Credence目前的策略方向为何?未来又有哪些发展计画?


Credence亚洲区总裁朱陵生(以下简称朱):创立于1978年的Credence在与NPTest合并之前已经​​有很长一段发展的历史,在IC设计验证、特性分析测试与量产测试等领域的产品也有不错的成绩,但在技术发展上仍然有一些待突破的瓶颈;在因缘际会之下,Credence决定收购前身为Schlumberger Semiconductor Solutions、专长高阶数位测试的NPTest,而双方合并之后,NPTest所拥有的技术正好能补强过去Credence所欠缺的部分,让全新的Credence成为可支援IC设计到测试(design to test)的全方位设备业者。


新Credence所拥有的测试技术线除了能支援IC设计前端的可测试设计(Design for Test;DFT)、除错(debug)、特性分析(Characterization)等程序,也能提供各种除了DRAM以外(DRAM测试目前以Advantest的设备为最大宗)的IC测试软、硬体设备,包括SoC、数位或类比混合讯号IC(Analog Mixed Signal;AMS),以及非挥发性记忆体(Non-Volatile Memory;NVM)、汽车IC等。虽然目前Credence在整体营业额的排名仍在后Teradyne与Agilent等同业之后,暂居第三位,但在产品的完整性上可说是领先业界,而且我们也有信心在未来的几年有更进一步的成长,也将持续努力将每一条产品线的成绩达到业界领先,提供客户低成本的半导体测试解决方案。
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