近来许多半导体制造商纷纷推出了拥有卓越性能的高速模拟数字转换器(Analog/Digital Converter；ADC)产品，因此您可能要问，「这些厂商是如何测量芯片的效能？又是使用哪些设备来作测量的呢？」以下我们就为您介绍在ADC转换器中最重要的两个精确度参数的量测方法，那就是积分非线性度(Integral NonLinearity；INL)以及微分非线性度(DifferentialNonLinearity；DNL)。除非常使用ADC产品，否则我们常会忘记INL与DNL这两个参数的真正意义以及重要性，以下我们将先对这方面的定义做一个简单的解释。

INL误差的定义为其实际转换函

数与直线之间的误差，以LSB或整个转换运作范围的百分比为单位，因此INL误差量的大小就与直线所选择的位置直接相关。我们常用的定义法有两种，那就是「最佳直线(best straight line)法」与「端点(endpoint)法」，请见(图一)。
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