因应IC设计在亚洲的蓬勃发展，工研院主办的第二届国际超大规模集成电路设计、自动化暨测试研讨会（2006 VLSI-DAT）在新竹国宾举行。专题演讲与来自全球共72篇突破性技术论文，吸引来自欧美日等17国300余位专业人才与会，共同切磋分享全球IC设计最新技术与发展。

2006 VLSI-DAT首先登场的是三位国际重量级场大师级的专题演讲，分别由加州大学教授Daniel D. Gajski主讲系统层次设计的新策略(New Strategies for System Level Design)、日本STARC公司总裁Katsuhiro Shimohigashi主讲奈米时代的挑战与机会(DFM in Perspective - A Challenge and Opportunity in Nanometer Era)，以及BenQ的技术副总Bruno Thuillier主讲大规模集成电路与行动化(VLSI & Mobility)。集成电路迈入奈米制程的芯片系统时代，设计方法必须跟着进步，系统层次设计策略可以大幅提升设计生产力与速度；可量产设计(DFM)则可确保芯片良率与质量；而集成电路做为行动应用的关键技术则在BenQ的演讲中剖析。

在论文发表方面，2006 VLSI-DAT从来自14国191篇论文中精选出72篇，这三天发表的论文在IC设计上有许多突破与特色，将对未来的产品应用上有极大的影响力，内容涵盖模拟技术领域、数字视频和通讯领域、无线通信领域、系统层次整合领域、嵌入式系统、设计自动化与集成电路测试。所有论文都将被搜录于IEEE Digital Library。

另外，本届大会在第一天下午开辟一场由国内IC设计厂商发表最新技术研发成果的产业论坛，参与的厂商包括联发科、凌阳、瑞昱、思源、威盛与硅创，除提供国内外业界相关领域人士交流机会外，也藉此互动在竞争中找到合作的契机。